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無損探傷檢測
發布時間: 2024-03-18 11:16 更新時間: 2024-12-03 08:00
無損檢測是利用聲、光、磁和電等特性,在不損害或不影響被檢測對象使用性能的前提下,檢測零部件是否存在缺陷或不均勻性,給出缺陷的大小、位置、性能和數量等信息,
進而判斷被檢對象所處技術狀態的所有技術手段的總稱。
檢測項目:
1、射線檢測:利用射線穿透物質時的衰減特性來探測被檢物中的不連續性(缺陷)并記錄與實現其圖像的方法。射線檢測按照射線(或輻射)源不同可分為X射線檢測、γ射線檢測、
中子射線檢測、質子射線檢測和電子輻射檢測等方法。
2、超聲波檢測:利用人感覺不到的高頻聲波(>20000Hz)在被檢物中的傳播、反射、衰減等特性判斷測定被檢物缺陷的方法。
3、磁粉檢測:被檢物在磁場中被磁化后,缺陷部位產生漏磁磁場,在被檢物表面撒上磁粉,缺陷處有磁粉附著從而顯示出缺陷。磁粉檢測只適用于鐵磁性材料。
鐵磁性材料上非磁性涂層厚度小于50um時,對磁粉檢測靈敏度影響很小。缺陷長度方向與磁場方向相垂直是磁粉檢測的重要條件。
4、滲透檢測:施加于被檢物的滲透劑靠毛細作用滲入被檢物表面缺陷內,清洗被檢物后,用顯像劑將殘留在缺陷中的滲透劑吸出,從而以熒光或著色圖像顯示缺陷的形狀和位置。
滲透液對缺陷的滲透能力與滲透液表面張力、滲透液對固體的潤濕作用、缺陷形狀和大小以及滲透液粘度等有關。
檢測項目及涉及檢測標準:
序號 | 項目/參數 | 檢測標準(方法)名稱及編號(含年號) |
1 | X射線檢測 | GB/T 3323-2005;GB/T 5677-2007 ;JB/T 4730.2-2005 |
2 | 超聲波檢測 | GB/T 2970-2004;GB/T 7734-2004;GB/T 11345-2013;CB/T 3559-2011;GB/T 4162-2008;GB/T 6402-2008;GB 7233.1-2009 ;JB/T 4730.3-2005;GB/T 5193-2007;GB/T 6519-2013 |
3 | 磁粉檢測 | JB/T 6061-2007;GB/T 9444-2007;JB/T 4730.4-2005;CB 819-1975;CB 973-1981 |
4 | 滲透檢測 | JB/T 6062-2007;GB/T 9443-2007;JB/T 8466-1996;JB/T 4730.5-2005;CB/T 3290-2013; |
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